제목

스캔 체인 내 다중 고장을 진단하기 위한 장치 및 방법

출원인

연세대학교 산학협력단

공고일

2021.07.02

출원일

2020.02.28

게시글 내용

 본 발명에 따르면, 스캔 경로를 다양하게 변경시켜 가며 여러 경로로의 플러시 패턴 기반 테스트를 진행해 일차적으로 고장 후보군을 좁힌 뒤, 1차 진단된 고장 후보군들에 대한 추가적인 테스트를 통해 고장 후보군을 더욱 좁혀 나가는 방식으로 고해상도 고장 진단을 수행하는 스캔 체인 내 다중 고장을 진단하기 위한 장치 및 방법이 개시된다. 

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