- 제목
- 메모리의 테스트 데이터 압축 장치 및 방법
- 출원인
- 연세대학교 산학협력단
- 공고일
- 2021.03.17
- 출원일
- 2020.03.18
- 게시글 내용
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본 실시예들은 머스트 수리 조건과 테스트 알고리즘의 동일한 셀을 짧은 시간 동안 반복적으로 읽는 특성을 이용하여 테스트 데이터를 압축하며, 메모리 수리에 필요한 최소한의 정보를 자동 테스트 장치로 전송하여 전체 테스트 비용과 시간을 절감하는 메모리의 테스트 데이터 압축 장치 및 방법을 제공한다.
- 첨부
- 공고전문PDF
- 자료출처 : KIPRIS (https://www.kipris.or.kr)
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