본 실시예에 의한 테스트 방법은 초기값이 할당된 X 비트를 포함하는 제1 테스트 패턴을 형성하고, 제1 테스트 패턴 및 제1 테스트 패턴이 제공되어 시프트 아웃된 제1 시프트 아웃 패턴의 가중 전이 메트릭(WTM, weighted transition metric)를 연산하는 단계와, X 비트 값이 반전된 제2 테스트 패턴을 형성하고, 제2 테스트 패턴의 WTM 값 및 제2 테스트 패턴에 의한 예상 시프트 아웃 패턴의 WTM 예상값을 연산하는 단계 및 제1 테스트 패턴의 WTM 값과 제2 테스트 패턴의 WTM 값의 차이와, 제1 시프트 아웃 패턴의 WTM 값과 예상 시프트 아웃 패턴의 WTM 예상값의 차이를 합산하는 개선도 값(improvement value) 연산 단계를 포함한다.
