시료의 관찰 대상체의 형상에 따라 참조광의 형상을 변조하는 임의 형태의 광 스캔을 이용하여 정량 위상 이미지를 생성하는 정량 위상 이미징 장치 및 정량 위상 이미징 방법이 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 정량 위상 이미징 장치는: 관찰 대상인 시료를 고정하기 위한 기판; 상기 시료를 관찰하기 위한 광을 제공하는 광원; 상기 시료의 관찰 대상체의 형태에 따라 상기 광원으로부터 제공되는 광의 형태를 변화시켜 참조광을 생성하는 광 변조기; 상기 참조광을 상기 시료를 경유하는 제1 광 경로를 향하는 제1 참조광과, 상기 시료를 경유하지 않는 제2 광 경로를 향하는 제2 참조광으로 분기시키는 빔 스플리터; 및 상기 제1 광 경로에서 상기 제1 참조광이 상기 시료를 투과하여 생성되는 시료광과, 상기 제2 광 경로를 따라 상기 시료를 투과하지 않은 채로 전달되는 상기 제2 참조광 간의 간섭광을 검출하는 검출기;를 포함한다.