모바일 메뉴 닫기
 
전체메뉴
닫기
 

산학협력단

보유 특허 검색

제목
회로의 고장 진단 방법 및 장치
출원인
연세대학교 산학협력단
공고일
2024.11.18
출원일
2021.12.29
공개일
2023.07.07
게시글 내용
 본 실시예의 고장 검출 방법은: 고장이 주입된 논리 회로에 입력 테스트 패턴을 제공하고 상기 고장에 상응하는 고장 이미지를 형성하여 신경망을 학습시키는 단계와, 상기 입력 테스트 패턴이 입력된 논리 회로에서 고장 이미지를 형성하고, 상기 신경망에 제공하여 상기 고장을 파악하는 단계를 포함한다. 

회로의 고장 진단 방법 및 장치 대표 이미지

첨부
공개전문PDF 공고전문PDF
  • 자료출처 : KIPRIS (https://www.kipris.or.kr)
  • 키워드(검색어)별, 발명자별 특허(기술), 공개특허 한정 검색 가능
  • 연구분야별 비공개 특허(기술)은 지식재산권 담당자 별도 문의
  • 지식재산권 담당자
  • 관련 문의처
    보유특허 검색 페이지 및 담당자 정보 안내
    특허 출원인 (권리자) 전담부서 연락처
    연세대학교 산학협력단 본교 산학협력단 지식재산팀 지식재산팀 양지혜 팀장
    (02-2123-5138 / jh.yan@yonsei.ac.kr)
    연세대학교 원주산학협력단 원주산학협력단 기술경영팀 기술경영팀 오정환 팀장
    (033-760-5251 ~ 5252 / WJDGHKSA@yonsei.ac.kr)